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  • WD4000晶圓三維形貌量測系統(tǒng)

    WD4000晶圓三維形貌量測系統(tǒng)可廣泛應(yīng)用于襯底制造 、 晶圓制造 、及封裝工藝檢測 、3C 電子玻璃 屏及其精密配件、光學(xué)加工 、顯示面板 、MEMS 器件等超精密加工行業(yè) 。可測各類包括從光滑到粗糙 、低 反射率到高反射率的物體表面, 從納米到微米級別工件的厚度 、粗糙度 、平整度 、微觀幾何輪廓 、曲率等。

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    產(chǎn)品價格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-08-11
  • WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測量系統(tǒng)

    WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測量系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

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    產(chǎn)品價格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-08-11
  • WD4000晶圓形貌量測設(shè)備

    WD4000晶圓形貌量測設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反應(yīng)表面形貌的參數(shù)。

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    產(chǎn)品價格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-08-11
  • WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌測量系統(tǒng)

    WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌測量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反應(yīng)表面形貌的參數(shù)。

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    產(chǎn)品價格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-09-14
  • WD4000無圖晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)

    中圖儀器WD4000無圖晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像,實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TTV)及分析反映表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)。

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    產(chǎn)品價格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-09-14
  • WD4000晶圓表面形貌檢測設(shè)備

    中圖儀器WD4000晶圓表面形貌檢測設(shè)備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

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    產(chǎn)品價格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-08-11
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