詳細介紹
品牌 | 中圖儀器 | 產地 | 國產 |
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加工定制 | 否 |
中圖儀器SuperVieweW光學表面微觀形貌輪廓測量儀以白光干涉技術為原理,用于對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、孔隙間隙、磨損情況、腐蝕情況、波紋度、臺階高度、表面缺陷、面形輪廓、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。
SuperVieweW光學表面微觀形貌輪廓測量儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
1)樣件測量能力:單一掃描模式即可滿足從超光滑到粗糙、鏡面到全透明或黑色材質等所有類型樣件表面的測量;
2)單區域自動測量:單片平面樣品或批量樣品切換測量點位時,可一鍵實現自動條紋搜索、掃描等功能;
3)多區域自動測量:可設置方形或圓形的陣列形式的多區域測量點位,一鍵實現自動條紋搜索、掃描等功能;
4)自動拼接測量;支持方形、圓形、環形和螺旋形式的自動拼接測量功能,配合影像導航功能,可自定義測量區域,支持數千張圖像的無縫拼接測量;
5)編程測量功能:支持測量和分析同界面操作的軟件模塊,可預先配置數據處理和分析步驟,結合自動單測量功能,實現一鍵測量;
6)數據處理功能:提供位置調整、去噪、濾波、提取四大模塊的數據處理功能;
7)數據分析功能:提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。
8)批量分析功能:可根據需求參數定制數據處理和分析模板,針對同類型參數實現一鍵批量分析;
9)數據報表導出:支持word、excel、pdf格式的數據報表導出功能,支持圖像、數值結果的導出;
10)故障排查功能:配置診斷模塊,可保存掃描過程中的干涉條紋圖像;
11)便捷操作功能:設備配備操縱桿,支持操縱桿進行所有位置軸的操作及速度調節、光源亮度調節、急停等;
12)環境噪聲評價:具備0.1nm分辨率的環境噪聲評價功能,定量檢測出儀器受到外界環境干擾的噪聲振幅和頻率,為設備調試和故障排查提供定量依據;
13)氣浮隔振功能:采用氣浮式隔振底座,可有效隔離地面傳導的振動噪聲,確保測量數據的高精度;
14)光源安全功能:光源設置無人值守下的自動熄燈功能,當檢測到鼠標軌跡長時間未變動后會自主降低熄滅光源,防止光源高亮過熱損壞,并有效延長光源使用壽命;
15)鏡頭安全功能:雙重防撞保護,軟件ZSTOP防撞保護,設置后即以當前位置為位移下限位,不再下移且伴有報警聲;設備配備壓力傳感器,并在鏡頭處進行了彈簧結構設計,確保當鏡頭碰撞后彈性回縮,進入急停狀態,大幅減小碰撞沖擊力,有效保護鏡頭和掃描軸,消除人為操作的安全風險。
對各種產品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。
SuperVieweW可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
型號 | W1 | |
光源 | 白光LED | |
影像系統 | 1024×1024 | |
干涉物鏡 | 標配:10× 選配:2.5×、5×、20×、50×、100× | |
光學ZOOM | 標配:0.5× 選配:0.375×、0.75×、1× | |
標準視場 | 0.98×0.98㎜(10×) | |
XY位移平臺 | 尺寸 | 320×200㎜ |
移動范圍 | 140×100㎜ | |
負載 | 10kg | |
控制方式 | 手動和電動兼容型 | |
Z軸聚焦 | 行程 | 100㎜ |
控制方式 | 電動 | |
臺階測量 | ||
可測樣品反射率 | 0.05%~100 | |
主機尺寸 | 700×600×900㎜ |
如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯系中圖儀器咨詢。
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